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半自动冲击试验箱

简要描述:

半自动冲击试验箱目前适用的行业及产品有光电、LED、显示器、显示屏连接器,PCB连接器,FPC,电感器,电子元器件,数码产品,太阳能组件,光伏组件,光纤,LCD,PCB,FPC,微电子,电机,汽车灯产品及零部件等大型产品或者大型零部件。从很低到很高的温度包括中间的任意温度均可随意设定恒温或者冲击试验。

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半自动冲击试验箱目前适用的行业及产品有光电、LED、显示器、显示屏连接器,PCB连接器,FPC,电感器,电子元器件,数码产品,太阳能组件,光伏组件,光纤,LCD,PCB,FPC,微电子,电机,汽车灯产品及零部件等大型产品或者大型零部件。从很低到很高的温度包括中间的任意温度均可随意设定恒温或者冲击试验。

半自动冲击试验箱因为温度冲击试验箱本来就是用于测试各种工业材料的结构或复合材料,在瞬间下经不同温度的连续环境下所能忍受的程度,得以在很短时间内检测试样因极高温及极低温的温度冲击所引起的物理伤害或化学变化,从而判断它的寿命及性能变化。

型号

AP-CJ-50

AP-CJ-80

AP-CJ-150

AP-CJ-250

AP-CJ-1000

内箱尺寸(cm)

35×35×40

50×40×40

60×50×50

70×60×60

100×100×100

外箱尺寸(cm)

以实际尺寸为标准

高低温范围

(150℃~A:-45℃;B:-55℃;C:-65℃);:60℃~ 150℃;-10℃~-65℃;)

升温时间(蓄热区)

RT~200℃约需30min

降温时间(蓄冷区)

RT~-70℃约需80min

温度转换时间/回复时间

≤10sec内/≤5min内

温度控制精度/分布精度

±0.5℃/±2.0℃

半自动冲击试验机本设备满足:GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A 低温;GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温;GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件;GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件;GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件;GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则;GB/T5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备。

 


 

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